薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器
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薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器
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产品编号：
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841482816
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产品名称：
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温度与薄膜厚度测量监测器
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规 格：
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产品备注：
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产品类别：
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薄膜测量仪器
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产 品 说 明
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Eon-LT?温度与薄膜厚度测量监测器是一个基于电脑的薄膜厚度监测器，远远优于优于传统的监测器，传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合，在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。
为什么要测量温度？因为加热过程导致晶体的频率变化，毫无疑问等于镀膜引起的频率变化，对大多数速率测量，在正常操作会存在10%的误差，最糟糕的情况，会产生100%的误差。如果你的测量总是出错，那就是我们为什么要用Eon-LT?温度测量薄膜厚度监测器来测量。
特点：
● 附加精密的温度测量
● 与最新、直观的 Eon?软件通信
● 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图
● 支持挡板的接通和断开
● 通信：RS-232, USB, 和 WiFi
● 双通道扩展能力
● 包括所有的连接电缆、软件和操作手册
● 驱动晶体6MHz,1-200Ω, 任何类型（石英、超级石英）
● 两个K型热电偶输入，精确到 /-0.25?C
● 两个高分辨传感头，输入精度达到0.001Hz
● 24V电源
● 工业标准的RS232通信协议
● 尺寸：4.5英寸 x 2.5英寸 x 1英寸
● 两个用户可选的传输口
● LED状态指示
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产品 >> 薄膜测量仪器 >> 所有小类
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共有 13 个产品
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名称:
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通用型薄膜生长厚度控制器 | 薄膜生长厚度控制仪
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编号:
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841411316
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名称:
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Tempe?高温薄膜测量系统 | Tempe?薄膜测量系统
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编号:
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8414101016
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名称:
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薄膜监测控制系统 (Phoenix? System ID) | 精密薄膜监测控制系统
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编号:
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841492016
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名称:
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温度与薄膜厚度测量监测器
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编号:
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841482816
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名称:
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PhoenixTM 薄膜厚度监控系统 | 薄膜厚度监控仪 | 薄膜厚度监控器
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编号:
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841472316
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名称:
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OSC100型通用石英晶体振荡器 | 石英晶体振荡器
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编号:
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841463016
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名称:
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Tempe? 高真空晶体传感器 | Tempe?高真空石英晶振片传感器
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编号:
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841453516
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名称:
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Infinity?多个晶振片传感器 | Infinity?多个晶体传感器
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编号:
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841444216
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名称:
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薄膜厚度传感器
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编号:
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841432316
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