◆ 世界唯一采用低电流(100uA)X射线发生器设计的RoHS检测仪
常规能量色散性萤光光谱仪之X-ray发生器电流为1000uA,而ElvaX发生器电流降至100uA,是同业产品的十分之一)，从而提高了X-ray发生器及射线管激发耗损比，延长寿命，节省使用成本。
◆ 世界领先的探测器设计方案
ElvaX为RoHS检测之需求而特别选用的Si-PIN探测器，采用电子制冷，免除了使用液氮制冷方式的检测成本及潜在不稳定性，使用安全可靠；拥有最佳的应用解析度(优于145eV, 5.9keV/Fe55同位素条件下)；采用垂直角度探测器设计，使探测器与测试样品形成闭合，大大提高了特征射线面积接收比及接收距离，使元素的成分鉴定及浓度解析精准无误。
◆ 针对RoHS检测特点自主设计之模组高压电源，降低设备重量及体积，提高系统稳定性
ElvaX是世界唯一的针对RoHS检测的特点采用自主设计的模组化高压电源的RoHS检测仪，从而降低了设备重量及体积，由于高压电源针对X射线发生器及光管的配合特点设计，从而大大提高了系统稳定性，提高了系统测试精度。
◆ 内置背景干扰、波峰分离技术，大大提高信噪比，使测量结果更精确
采用ElvaX公司自行开发的背景干扰、波峰分离技术，可以分离检测器难以分离的波峰能谱，去除背景信号干扰，提升信噪比，能谱分析、测量结果更精确。
◆ 可定制不同尺寸样品腔，实现更广范围检测
ElvaX可标配三种不同规格的样品腔：标准型、加大型及8腔自旋型，完全满足从颗料状物质到大型平板式等广泛范围内的样品检测需求。
◆ 优秀的人机对话介面，简单易学，使用方便
ElvaX为RoHS检测特别设计的软体具有亲和的人机对话介面，一键式操作即可完成样品检测，内建多种运算模式，使未知元素的定性及定量分析变得简单快捷。
◆ 可轻松生成各种格式的测量报告
内建报告格式编辑软体，使用者可根据自行需要设定报告格式内容生成范本。测试完毕导出报告时只需选择报告范本格式，软体自动生成完整分析报告，再无需人工整理。测试结果自动存入资料库，可导出至EXCEL格式进行管理。
◆ 可精确检测As、Sb、Se、Ba四种元素
ElvaX另能对As、Sb、Se、Ba四种元素等8大重金属进行定性和定量的分析；
主要技术参数
型号 | ES730 | ES760 | ES790 |
测试范围 | RoHS | RoHS/EN71 | RoHS/EN71/卤素（CL） |
探测范围 | Na(11)~U(92)之广泛范围内的元素含量分析 |
检出下限 | 一般元素检出下限为2.0ppm，合金成份5ppm |
X射线管 | Ti或Rh或W阳极靶，140micro Be窗，风冷 |
X-Ray发生器 | 管压4~50KV（调整间距：0.1KV，管流0~100μA，调整间距：0.2μA），最大5W |
稳定性 | 8小时变化量小于0.1% |
探测器 | Si-PIN，电子扇冷却 |
解析度 | 140eV—175eV |
准直器 | 2，3，5mm |
探测窗 | Be,12μm |
系统尺寸 | 标准型：43cm X 34cm X 20cm 加大型：50cm X 50cm X 38cm |
系统电源 | 110VAC/60HZ 或 220VAC/50HZ |
系统功率 | 50W |
模数转换 | 4096通道，连续逼近，滑行刻度 |
获取时间 | 10—240秒 |
选择配置 | 8微型样品腔自动切换功能，样品定位相机 |
操作软体 | ElvaX控制套装软体，运行于Windows 98,2000,XP or NT(中/英文) |
控制专案 | X---ray 输出，测试参数设定，样品及滤光片选择 |
光谱处理 | 自动顶点搜索，顶点消除，背景消除，自动元素识别 |
定量分析运演算法则 | 基本参数，二次方程式衰减，手动光谱对比 |
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